精準測量電阻率、方塊電阻等參數直接影響著材料的性能和器件的可靠性。這在半導體材料研發和生產過程中起著至關重要的作用。作為一名半導體材料工程師，您是否還在為尋找一款精準、可靠、高效的測試儀器而煩惱？

蘇州同創電子有限公司推出的SZT-2C四探針測試儀，專為半導體材料測量而設計，是您不可或缺的得力助手！

為什么半導體材料工程師需要SZT-2C四探針測試儀？

精準測量，確保材料性能：SZT-2C 采用先進的電路設計和自動校準功能，最小分辨率可達 0.01mΩ，測量標準不確定度 ≤ 2%，為您提供精準可靠的測量數據，讓半導體材料的性能達到預期。

高效便捷，提升研發效率：彩色液晶顯示屏、電腦連接、手自一體等功能，使操作簡便明了，可大大提高您的工作效率，讓您將更多精力投入到研發和創新中。

經久耐用，降低使用成本：自動傳感裝置、鎢鋼探針等設計，有效延長儀器使用壽命，降低您的使用成本。

SZT-2C四探針測試儀在半導體材料領域的應用：

半導體材料研發：用于測量硅片、晶圓、外延片等半導體材料的電阻率、方塊電阻等參數，為材料研發提供數據支持。

半導體器件制造：用于監測半導體器件制造過程中各道工序的電阻率變化，能有效保障器件性能的一致性。

太陽能電池片生產：用于測量太陽能電池片的方塊電阻，評估電池片的轉換效率。

SZT-2C四探針測試儀，您值得擁有的理由：

精準：先進電路設計，自動校準，確保數據準確可靠。

高效：彩色液晶顯示，電腦連接，手自一體，操作簡便高效。

耐用：自動傳感裝置，鎢鋼探針，延長使用壽命。

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